機器一覧

対象試料カテゴリー：半導体

粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置
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熱分析システム
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走査型電子顕微鏡
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示差熱熱重量同時測定装置
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Ｘ線光電子分析装置
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電子スピン共鳴装置
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走査型電子顕微鏡装置
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透過型電子顕微鏡装置
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顕微レーザーラマン分光装置
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