透過型電子顕微鏡装置

セラミックス半導体回路基板新素材生体生物細胞組織結晶繊維複合材料酸化物金属高分子

トモグラフ元素分布内部制限視野回折原子配列微細構造接合部断面格子像点分析面分析

装置ID	E-012K
メーカー	日本電子
型番	JEM-2100
主な用途	多様な試料の内部構造と元素分布の解析
仕様詳細	高出力・高精度LaB6電子銃を搭載しており、5段階で加速電圧を200 kVまで上げることができる。生物・非生物材料の超薄切片を2,000倍から150万倍に拡大し、内部の微細構造を観察できる。格子像の分解能は1.4 Åである。データはCCDカメラに取り込み解析できる。また、STEM 機能があり、対象を3次元で観察した3Dトモグラフを得ることもできる。加えて、接続したX線分析装置（EDX）によるホウ素より重い元素の分布解析も可能である。
利用料金	1検体 46,200円